THS-B高低溫濕(shi)熱試(shi)驗箱(xiang)（高低溫環境試(shi)驗箱(xiang)），高低溫交變(bian)濕(shi)熱試(shi)驗箱(xiang)（高低溫交變(bian)環境(jing)試(shi)驗箱(xiang)）可(ke)模擬出(chu)自(zi)然環境(jing)氣(qi)候(hou)的(de)變(bian)化對(dui)現(xian)代(dai)工(gong)業品所(suo)造成(cheng)的(de)破(po)壞(huai)性(xing)，可(ke)模擬高(gao)溫(wen)恒(heng)溫(wen)、低溫恒(heng)溫(wen)、高(gao)溫(wen)恒(heng)濕(shi)、濕(shi)熱交變(bian)等不同環境氣(qi)候(hou)的(de)測試(shi)條件(jian)。廣(guang)泛適用於電(dian)工、電(dian)子(zi)、電(dian)器、LED、汽車(che)配件(jian)、手機、儀器儀表(biao)及(ji)其(qi)它(ta)產品零(ling)部(bu)件(jian)測試(shi)。