THS系(xi)列高低溫(wen)濕(shi)熱(re)試驗(yan)箱(xiang)（THS系(xi)列高低溫(wen)環境試驗(yan)箱(xiang)），高低溫(wen)交(jiao)變濕熱(re)試驗(yan)箱(xiang)（高低溫(wen)交(jiao)變環境試驗(yan)箱(xiang)）可(ke)模擬出自(zi)然環境氣(qi)候(hou)的變(bian)化(hua)對現(xian)代(dai)工業(ye)品所造(zao)成(cheng)的破(po)壞性(xing)，可(ke)模擬高溫(wen)恒(heng)溫(wen)、低(di)溫(wen)恒(heng)溫(wen)、高溫(wen)恒(heng)濕、濕(shi)熱(re)交變(bian)等(deng)不(bu)同(tong)環境氣(qi)候(hou)的測(ce)試(shi)條件(jian)。廣泛適(shi)用(yong)於(yu)電(dian)工、電(dian)子、電(dian)器、LED、汽車配(pei)件(jian)、手機(ji)、儀(yi)器儀(yi)表及其它產(chan)品零(ling)部(bu)件(jian)測試(shi)。