EHSW系(xi)列(lie)恒(heng)溫恒(heng)濕稱(cheng)重(zhong)系(xi)統(tong)，又(you)稱(cheng)濾(lv)膜平(ping)衡(heng)稱(cheng)量(liang)系(xi)統(tong)、超(chao)細(xi)顆(ke)粒物稱(cheng)重(zhong)系(xi)統(tong)、總(zong)懸(xuan)浮顆(ke)粒物稱(cheng)重(zhong)系(xi)統(tong)、大(da)氣監測稱(cheng)重(zhong)工(gong)作(zuo)站、恒溫恒(heng)濕工作(zuo)站。恒溫恒(heng)濕稱(cheng)重(zhong)系(xi)統(tong)是(shi)為(wei)滿足環(huan)保部標中相關規(gui)定的(de)要(yao)求(qiu)，在(zai)恒溫恒(heng)濕環境(jing)內放置高精(jing)度(du)天平(ping)，將要(yao)稱(cheng)量(liang)的(de)樣(yang)品(pin)放入恒溫恒(heng)濕箱體內平(ping)衡(heng)24小時(shi)後再(zai)進行稱(cheng)量(liang)。本(ben)產(chan)品(pin)解(jie)決了實(shi)驗(yan)室(shi)環境溫度(du)濕度的(de)變化(hua)對樣(yang)品(pin)稱(cheng)重(zhong)結(jie)果(guo)的(de)影(ying)響，極(ji)大(da)的(de)提(ti)高(gao)了(le)稱(cheng)量(liang)樣(yang)品(pin)結(jie)果(guo)的(de)準(zhun)確性(xing)。

恒(heng)溫恒(heng)濕稱(cheng)重(zhong)系(xi)統(tong)

用(yong)途概述(shu)

EHSW系(xi)列(lie)恒(heng)溫恒(heng)濕稱(cheng)重(zhong)系(xi)統(tong)，又(you)稱(cheng)濾(lv)膜平(ping)衡(heng)稱(cheng)量(liang)系(xi)統(tong)、超(chao)細(xi)顆(ke)粒物稱(cheng)重(zhong)系(xi)統(tong)、總(zong)懸(xuan)浮顆(ke)粒物稱(cheng)重(zhong)系(xi)統(tong)、大(da)氣監測稱(cheng)重(zhong)工(gong)作(zuo)站、恒溫恒(heng)濕工作(zuo)站。恒溫恒(heng)濕稱(cheng)重(zhong)系(xi)統(tong)是(shi)為(wei)滿足環(huan)保部標中相關規(gui)定的(de)要(yao)求(qiu)，在(zai)恒溫恒(heng)濕環境(jing)內放置高精(jing)度(du)天平(ping)，將要(yao)稱(cheng)量(liang)的(de)樣(yang)品(pin)放入恒溫恒(heng)濕箱體內平(ping)衡(heng)24小時(shi)後再(zai)進行稱(cheng)量(liang)。本(ben)產(chan)品(pin)解(jie)決了實(shi)驗(yan)室(shi)環境溫度(du)濕度的(de)變化(hua)對樣(yang)品(pin)稱(cheng)重(zhong)結(jie)果(guo)的(de)影(ying)響，極(ji)大(da)的(de)提(ti)高(gao)了(le)稱(cheng)量(liang)樣(yang)品(pin)結(jie)果(guo)的(de)準(zhun)確性(xing)。該(gai)系(xi)統(tong)適(shi)用(yong)稱(cheng)量(liang)固(gu)定(ding)汙染源廢(fei)氣等(deng)低濃度(du)顆(ke)粒物的重量，主要(yao)應(ying)用(yong)於(yu)環境(jing)、氣象監(jian)測站中大(da)氣稱(cheng)量(liang)濾(lv)膜、以(yi)及科研(yan)機構和第三(san)方(fang)檢(jian)測實(shi)驗(yan)室(shi)等(deng)領(ling)域(yu)。

EHSW系(xi)列(lie)恒(heng)溫恒(heng)濕稱(cheng)重(zhong)系(xi)統(tong)產(chan)品(pin)特(te)點

※二次優化(hua)設計(ji)風(feng)道(dao)結(jie)構，既保證箱體內溫濕(shi)度均勻，又可避免氣流擾(rao)動(dong)影(ying)響稱(cheng)量(liang)結(jie)果(guo)；

※內膽采用(yong)不(bu)銹鋼(gang)材(cai)質(zhi)，外(wai)殼靜電噴(pen)塑，壓(ya)縮機等(deng)振動(dong)源與(yu)箱體分(fen)離，避免設備(bei)震(zhen)動(dong)對稱(cheng)重(zhong)系(xi)統(tong)幹(gan)擾；

※采用(yong)彩(cai)色(se)觸摸屏控(kong)制(zhi)系(xi)統(tong)，實(shi)時(shi)顯(xian)示(shi)溫濕(shi)度數值(zhi)並(bing)可通(tong)過溫濕(shi)度曲線分(fen)別查(zha)看溫濕(shi)度波(bo)動(dong)曲線，通過表格記(ji)錄查(zha)看溫濕(shi)度歷史(shi)數(shu)據(ju)。

※箱體負(fu)壓(ya)密(mi)封(feng)，操(cao)作(zuo)時(shi)內外(wai)氣壓(ya)隔(ge)離，防(fang)止(zhi)樣(yang)品(pin)交叉(cha)汙染及(ji)環(huan)境(jing)顆(ke)粒物受到幹(gan)擾；

※升溫、降溫系(xi)統(tong)獨(du)立，系(xi)統(tong)穩(wen)定(ding)過程(cheng)高(gao)，過濾(lv)過程(cheng)30分(fen)鐘以內，穩(wen)定(ding)後可(ke)即(ji)時(shi)稱(cheng)重(zhong)；

※具有(you)漏(lou)電、過載(zai)、短(duan)路，超(chao)溫、缺(que)水、風(feng)機過熱、壓(ya)縮機等(deng)安(an)全保護(hu)以及溫度(du)超(chao)溫報(bao)警等(deng)安(an)全功(gong)能(neng)。

※工(gong)作(zuo)臺配(pei)備(bei)多級(ji)減(jian)震(zhen)支架，保證稱(cheng)重(zhong)系(xi)統(tong)準(zhun)確可(ke)靠(kao)，可定(ding)制(zhi)樣(yang)品(pin)支架，適(shi)配(pei)濾(lv)膜、量(liang)筒等(deng)多種(zhong)稱(cheng)量(liang)載(zai)體(ti)；

※集成(cheng)天平(ping)通(tong)訊(xun)接(jie)口(kou)，兼容(rong)梅(mei)特(te)勒(le)、賽多利(li)斯(si)等(deng)品(pin)牌(pai)天平(ping)，稱(cheng)重(zhong)數(shu)據(ju)實(shi)時(shi)同(tong)步顯(xian)示(shi)，並(bing)自動記(ji)錄到(dao)儀表系(xi)統(tong)內；

※可(ke)擴(kuo)展為(wei)全自(zi)動恒溫恒(heng)濕稱(cheng)重(zhong)系(xi)統(tong)，預留(liu)機械(xie)臂(bi)、去靜電模塊(kuai)、自動換(huan)樣(yang)系(xi)統(tong)接(jie)口(kou)，可升(sheng)級為(wei)無(wu)人(ren)值(zhi)守(shou)稱(cheng)重(zhong)平(ping)臺，可PLC編(bian)程(cheng)控(kong)制(zhi)，實(shi)現(xian)樣(yang)品(pin)全(quan)自動稱(cheng)重(zhong)。

符(fu)合(he)標準(zhun)

※符(fu)合(he)GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chan)品(pin)環(huan)境試驗(yan)設備(bei)基本參數檢(jian)定(ding)方(fang)法低溫、高(gao)溫、恒(heng)定濕熱、交變濕(shi)熱試驗(yan)設備(bei)》的要(yao)求(qiu)；

※電工電子產(chan)品(pin)基(ji)本環境試驗(yan)規(gui)程(cheng)試(shi)驗(yan)Ca：恒(heng)定濕熱試驗(yan)方(fang)法GB/T2423.3-93（IEC68-2-3）；

※電工電子產(chan)品(pin)基(ji)本環境試驗(yan)規(gui)程(cheng)試(shi)驗(yan)Da：交變濕(shi)熱試驗(yan)方(fang)法GB/T2423.4-93（IEC68-2-30）；

※GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試(shi)驗(yan)方(fang)法；

※GB/T5170.2-96《溫度(du)試驗(yan)設備(bei)》；

※GB/T5170.5-96《濕(shi)熱試驗(yan)設備(bei)》；

※GB10592-93《高(gao)、低溫試(shi)驗(yan)箱技(ji)術條件(jian)》GB10586-93《濕熱試驗(yan)箱技(ji)術條件(jian)》；

※HJ836-2017《固定汙染源廢(fei)氣低濃度(du)顆(ke)粒物的測定(ding)重(zhong)量法(fa)》；

※HJ-76固定汙染源煙(yan)氣排放連續(xu)檢(jian)測技(ji)術要(yao)求(qiu)及(ji)技(ji)術規(gui)範；

※HJ656環境(jing)空氣顆(ke)粒物（PM2.5）手(shou)工監測方(fang)法(fa)（重量(liang)法）技(ji)術規(gui)範；

※H/T48煙塵(chen)采樣(yang)器技(ji)術條件(jian)；

※H/T373固定原廢氣監測技(ji)術質(zhi)量保證與(yu)質(zhi)量控(kong)制(zhi)技(ji)術規(gui)範；

※H/T397固定(ding)原(yuan)廢(fei)氣監測技(ji)術規(gui)範；

※JG/1036電子天平(ping)；

※GB/T16157固(gu)定(ding)汙染源排氣中低濃度(du)顆(ke)粒物采樣(yang)規(gui)定與(yu)氣態汙染物(wu)采樣(yang)方(fang)法。

新標準(zhun)測試(shi)限(xian)制(zhi)要(yao)求(qiu)

HJ836-2017《固(gu)定汙染源廢(fei)氣低濃度(du)顆(ke)粒物的測定(ding)重(zhong)量法(fa)》的檢(jian)測限(xian)：《固(gu)定汙染源中顆(ke)粒物測定(ding)與(yu)氣態汙染物(wu)采樣(yang)方(fang)法》（GB/T16157-1996）的修改(gai)內容(rong)：增加“1.2在(zai)測定(ding)固(gu)定汙染源排氣中顆(ke)粒物濃度時，濃度(du)小於(yu)等(deng)於20mg/m³，適(shi)用(yong)於(yu)H836（《固定(ding)汙染源廢(fei)氣低濃度(du)顆(ke)粒物的測定(ding)重(zhong)量法(fa)》），濃度大(da)於(yu)20mg/m³且(qie)不超(chao)過50mg/m³時(shi)，測定(ding)結(jie)果(guo)表述(shu)"<20mg/m³。

技(ji)術參數