產(chan)品(pin)中(zhong)心(xin)
PRODUCTS CENTER產(chan)品分(fen)類(lei)
相關文章
THS系列(lie)高(gao)低(di)溫濕熱(re)試驗(yan)箱(THS-C高(gao)低(di)溫環(huan)境試驗(yan)箱),高(gao)低(di)溫交(jiao)變濕熱(re)試驗(yan)箱(高(gao)低(di)溫交(jiao)變環(huan)境試驗(yan)箱)可(ke)模擬出(chu)自(zi)然(ran)環(huan)境氣候(hou)的(de)變(bian)化(hua)對(dui)現(xian)代(dai)工(gong)業(ye)品(pin)所造(zao)成的破壞性(xing),可模擬高(gao)溫恒(heng)溫、低(di)溫恒(heng)溫、高(gao)溫恒(heng)濕、濕熱(re)交(jiao)變等(deng)不同(tong)環(huan)境氣候(hou)的(de)測(ce)試條件。廣(guang)泛(fan)適用於電(dian)工(gong)、電(dian)子、電(dian)器(qi)、LED、汽車(che)配件、手(shou)機、儀器(qi)儀表(biao)及(ji)其(qi)它產(chan)品(pin)零部件測(ce)試。
THS-B高(gao)低(di)溫濕熱(re)試驗(yan)箱(高(gao)低(di)溫環(huan)境試驗(yan)箱),高(gao)低(di)溫交(jiao)變濕熱(re)試驗(yan)箱(高(gao)低(di)溫交(jiao)變環(huan)境試驗(yan)箱)可(ke)模擬出(chu)自(zi)然(ran)環(huan)境氣候(hou)的(de)變(bian)化(hua)對(dui)現(xian)代(dai)工(gong)業(ye)品(pin)所造(zao)成的破壞性(xing),可模擬高(gao)溫恒(heng)溫、低(di)溫恒(heng)溫、高(gao)溫恒(heng)濕、濕熱(re)交(jiao)變等(deng)不同(tong)環(huan)境氣候(hou)的(de)測(ce)試條件。廣(guang)泛(fan)適用於電(dian)工(gong)、電(dian)子、電(dian)器(qi)、LED、汽車(che)配件、手(shou)機、儀器(qi)儀表(biao)及(ji)其(qi)它產(chan)品(pin)零部件測(ce)試。
THS系列(lie)高(gao)低(di)溫濕熱(re)試驗(yan)箱(高(gao)低(di)溫環(huan)境試驗(yan)箱),高(gao)低(di)溫交(jiao)變濕熱(re)試驗(yan)箱(高(gao)低(di)溫交(jiao)變環(huan)境試驗(yan)箱)可(ke)模擬出(chu)自(zi)然(ran)環(huan)境氣候(hou)的(de)變(bian)化(hua)對(dui)現(xian)代(dai)工(gong)業(ye)品(pin)所造(zao)成的破壞性(xing),THS-D高(gao)低(di)溫環(huan)境試驗(yan)箱可(ke)模擬高(gao)溫恒(heng)溫、低(di)溫恒(heng)溫、高(gao)溫恒(heng)濕、濕熱(re)交(jiao)變等(deng)不同(tong)環(huan)境氣候(hou)的(de)測(ce)試條件。廣(guang)泛(fan)適用於電(dian)工(gong)、電(dian)子、電(dian)器(qi)、LED、汽車(che)配件、手(shou)機、儀器(qi)儀表(biao)及(ji)其(qi)它產(chan)品(pin)零部件測(ce)試。
THS系列(lie)高(gao)低(di)溫濕熱(re)試驗(yan)箱(THS系列(lie)高(gao)低(di)溫環(huan)境試驗(yan)箱),高(gao)低(di)溫交(jiao)變濕熱(re)試驗(yan)箱(高(gao)低(di)溫交(jiao)變環(huan)境試驗(yan)箱)可(ke)模擬出(chu)自(zi)然(ran)環(huan)境氣候(hou)的(de)變(bian)化(hua)對(dui)現(xian)代(dai)工(gong)業(ye)品(pin)所造(zao)成的破壞性(xing),可模擬高(gao)溫恒(heng)溫、低(di)溫恒(heng)溫、高(gao)溫恒(heng)濕、濕熱(re)交(jiao)變等(deng)不同(tong)環(huan)境氣候(hou)的(de)測(ce)試條件。廣(guang)泛(fan)適用於電(dian)工(gong)、電(dian)子、電(dian)器(qi)、LED、汽車(che)配件、手(shou)機、儀器(qi)儀表(biao)及(ji)其(qi)它產(chan)品(pin)零部件測(ce)試。
掃(sao)碼(ma)加(jia)微(wei)信
Copyright © 2026 上海喆(喆)圖科學儀器(qi)有限(xian)公司(si)版權所有 備案號:滬(hu)ICP備14016230號-3
技術(shu)支(zhi)持(chi):化(hua)工(gong)儀器(qi)網 管理(li)登(deng)錄(lu) sitemap.xml
掃(sao)碼(ma)加(jia)微(wei)信